Simulations of Trapping Effects in GaAs MESFETs and Requirements for Substrates in GaAs MESFET-ICs

K. Horio, Y. Fuseya

研究成果: Article査読

62 被引用数 (Scopus)
本文言語English
ページ(範囲)241-244
ジャーナルProceedings of 1992 IEEE GaAs IC Symposium, Florida, USA
出版ステータスPublished - 1992 10 1

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