本文言語 | English |
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ジャーナル | Physical Review Letters |
巻 | 83 |
出版ステータス | Published - 1999 4月 1 |
Surface defects and bulk defect migration produced by ion bombardment of Si(001)
K.Kyuno K.Kyuno, D.G.Cahill D.G.Cahill, R.S.Averback R.S.Averback, J.Tarus J.Tarus, K.Nordlund K.Nordlund, Kentaro Kyuno
研究成果: Article › 査読