TEM and electron backscatter diffraction analysis (EBSD) on superconducting nanowires

A. Koblischka-Veneva, M. R. Koblischka, X. L. Zeng, J. Schmauch, U. Hartmann

研究成果: Conference article査読

11 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「TEM and electron backscatter diffraction analysis (EBSD) on superconducting nanowires」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy