Three-dimensional analysis of nanoparticles by using annular dark-field scanning confocal electron microscopy - Established in a double aberration-corrected microscope

A. Hashimoto, P. Wang, M. Shimojo, K. Mitsuishi, A. I. Kirkl, P. D. Nellist, M. Takeguchi

研究成果: Article査読

本文言語English
ジャーナルDefault journal
出版ステータスPublished - 2010 6 1

引用スタイル