Three-dimensional observation of SiO2 hollow spheres with a double-shell structure using aberration-corrected scanning confocal electron microscopy

X. Zhang, X. Zhang;M.Takeguchi;A.Hashimoto;K.Mitsuishi;P.Wang;P Kirkl, ;M. Tezuka;M. Shimojo

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本文言語English
ページ(範囲)159-169
ジャーナルJ. Electron Microsc.
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出版ステータスPublished - 2012 12 1

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