Three-dimensional resolution limits and image contrast mechanisms in scanning confocal electron microscopy

P. D. Nellist, P. Wang, G. Behan, A. I. Kirkl, A. Hashimoto, M. Shimojo, K. Mitsuishi, M. Takeguchi, E. C. Cosgriff, A. J. D'Alfonso, L. J. Allen, S. J. Findlay

研究成果: Article査読

本文言語English
ジャーナルDefault journal
出版ステータスPublished - 2010 8 1

引用スタイル