Two-dimensional analysis of field-plate effects on surface state-related current transients and power slump in GaAs FETs

K. Horio, T. Tanaka, K. Itagaki, A. Nakajima

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本文言語English
ページ(範囲)698-703
ジャーナルIEEE Trans. Electron Devices
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出版ステータスPublished - 2011 3 1

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