Two-dimensional analysis of gate-lag phenomena in recessed-gate GaAs MESFETs

K. Horio, T. Yamada

研究成果: Paper査読

フィンガープリント

「Two-dimensional analysis of gate-lag phenomena in recessed-gate GaAs MESFETs」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science