Two-Dimensional Simulation of Deep-Trap Effects in GaAs MESFETs with Different Types of Surface States

K.Horio K.Horio, K.Satoh K.Satoh, T.Yamada T.Yamada, Kazushige Horio

研究成果: Article査読

本文言語English
ページ(範囲)78-81
ジャーナルProceedings of SISDEP’95, Erlangen, Germany
出版ステータスPublished - 1995 9 1

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