Two-Dimensional Simulation of Gate-Lag Phenomena in GaAs MESFETs and AlGaAs / GaAs HEMTS

K.Horio K.Horio, A.Wakabayashi A.Wakabayashi, N.Kurosawa N.Kurosawa, Kazushige Horio

研究成果: Article査読

本文言語English
ページ(範囲)339-342
ジャーナルInstitute of Physics Conference Series
Vol.166
出版ステータスPublished - 2000 4 1

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