| 本文言語 | English |
|---|---|
| ページ（範囲） | 6413-6414 |
| ジャーナル | Jpn. J. Appl. Phys. |
| 巻 | 42 |
| 出版ステータス | Published - 2003 10月 1 |
Valence Band Discontinuity at the AlN/Si Interface
H. Ishikawa, B. Zhang, T. Egawa, T.Jimbo T.Jimbo
研究成果: Article › 査読
22
被引用数
(Scopus)