Valence Band Discontinuity at the AlN/Si Interface

H. Ishikawa, B. Zhang, T. Egawa, T.Jimbo T.Jimbo

研究成果: Article査読

22 被引用数 (Scopus)
本文言語English
ページ(範囲)6413-6414
ジャーナルJpn. J. Appl. Phys.
42
出版ステータスPublished - 2003 10月 1

引用スタイル